在中国科学院、中国自然科学基金委员会等单位的大力支持和资助下，由中国科学技术大学国家同步辐射实验室和中国科学院高能物理研究所联合主办的第15届X射线吸收精细结构谱学国际会议（XAFS15）于7月22日至28日在北京召开。实验室主任吴自玉研究员担任本届会议主席。
XAFS方法是一种基于同步辐射装置的使用最广泛、最重要的研究手段，尤其是随着第三代同步辐射光源的出现以及多种插入件的利用，高亮度的X射线光源使XAFS技术在物理、化学、材料科学、生命科学和环境科学等众多学科领域研究方面取得了许多重大的进展和突破，极大地推动了交叉学科的发展，影响巨大，受到科学界的高度重视。XAFS国际会议是该领域内最高层次的国际学术会议，和真空紫外-X射线物理国际会议（VUVX）、同步辐射仪器设备国际会议（SRI）并称为同步辐射领域的三大国际会议，参加人数众多、影响范围广泛、研究领域前沿，具有广泛的国际影响力和科研推动力。
来自境外33个国家和地区的近300位知名专家学者参加了本次盛会，我国大陆参会代表有100余人。会议以大会报告、口头分会报告、墙报、分组讨论等形式，交流了XAFS理论、方法、技术及其应用研究的国际最新成果、未来发展及其新的生长点等。
本次会议邀请到众多国际一流学者到会并做了34个邀请报告，内容包括自由电子激光技术及其应用、时间分辨XAFS技术及其在动力学研究中的应用、XAFS先进理论、XAFS新技术及其在复杂生物体系中的应用、极端条件体系研究等多个国际研究热点，报道了很多在Science、Nature等顶级学术期刊上发表的成果。我国多位科学家在纳米科技、材料科学、生命科学、催化等领域也获邀做大会报告或分会报告，表明我国在这些领域的研究水平已经达到国际一流水平，并获得国际同行的高度评价。
本次会议汇聚了全球XAFS领域的顶尖科学家，加强了我国与国际同步辐射领域专家的全面交流与合作，催生了一批研究新思路，提高了我国同步辐射技术及应用领域在国际上的影响力。会议的成功举办，必将推动我国同步辐射事业的高速发展，为我国科学研究和高新技术研发做出更大的贡献。
