序号 | 专利名称 | 发明人 | 类型 | 授权号 | 证书号 | 授权日 |
1 | 一种热重分子束质谱联用装置 | 周岳忠、齐飞、潘洋、杨玖重、王国情 | 实用新型 | ZL 201420547763.3 | 4058247 | 20150107 |
2 | 一种小角和广角X射线散射联用装置及其实验测试方法 | 李良彬、崔昆朋、孟令蒲、刘艳萍、赵佰金 | 发明专利 | ZL 201310119544.5 | 1566089 | 20150114 |
3 | 简化十二极场磁铁装置及其制造方法 | 王相綦、罗焕丽、李想 | 发明专利 | ZL 201210334199.2 | 1572925 | 20150121 |
4 | 一种与X射线散射联用的恒幅宽薄膜拉伸装置及其实验方法 | 李良彬、孟令蒲、崔昆明、李静 | 发明专利 | ZL 201210579459.2 | 1572653 | 20150121 |
5 | 一种立式超小角X射线散射装置 | 李良彬、王震、陈晓伟 | 实用新型 | ZL 201420488344.7 | 4091631 | 20150121 |
6 | 一种具有原位测量效果的可拆除式独立真空腔体 | 孔帅、孙喆、崔胜涛、居赛龙、张国斌 | 实用新型 | ZL 201420623063.8 | 4115813 | 20150204 |
7 | 一种用于原位探测激光加热反应器产物的光电离质谱装置 | 杨玖重、李玉阳、周忠岳、齐飞、潘洋 | 实用新型 | ZL 201420547897.5 | 4123235 | 20150211 |
8 | 一种软X射线平焦场光谱仪的光谱分辨率提高方法 | 刘正坤、陈火耀、王庆博、刘颖、付绍军 | 发明专利 | ZL 201310306376.0 | 1628498 | 20150408 |
9 | 用于高分子薄膜材料原位结构检测的微型伸展流变装置及其实验方法 | 李良彬、纪又新、苏凤梅 | 发明专利 | ZL 201310014790.4 | 1656220 | 20150506 |
10 | 与X射线散射联用进行原位结构检测的挤出拉伸装置及其实验方法 | 李良彬、崔昆朋、刘艳萍、孟令蒲、李静 | 发明专利 | ZL 201310119546.4 | 1697441 | 20150617 |
11 | 一种微调刻蚀深度空间分布的系统 | 吴丽翔、邱克强、付绍军 | 实用新型 | ZL 201420724635.1 | 4373669 | 20150617 |
12 | 一种连接脉冲激光器与终端实验腔体的双光路装置 | 孔帅、吴喜波、穆克军、吴鹏、孙喆、张国斌 | 实用新型 | ZL 201520161342.1 | 4589714 | 20150902 |
13 | 一种快速束团横向尺寸和位置的提取方法 | 程超才、孙葆根、杨永良、卢平 | 发明专利 | ZL 201310156448.8 | 1780768 | 20150909 |
14 | 具有多次反射真空紫外光电离源的质谱分析仪 | 潘洋、王健、邱克强、朱治祥、刘成园 | 发明专利 | ZL 201310443607.2 | 1788453 | 20150909 |
15 | 一种圆孔径反对称简化六极场磁铁装置及其制造方法 | 王相綦、罗焕丽、黄维 | 发明专利 | ZL 201310259701.2 | 1821763 | 20151021 |
16 | 一种多脉冲激光诱导击穿光谱测量系统 | 高辉、潘从元、王声波、王秋平、曾强 | 实用新型 | ZL 201520355638.7 | 4694891 | 20151021 |
17 | 一种离子束刻蚀束斑分布矫正装置 | 曾思为、吴丽翔、邱克强、付绍军 | 实用新型 | ZL 201520523614.8 | 4775589 | 20151118 |
18 | 离子束抛光设备 | 吴丽翔、邱克强、曾思为、付绍军 | 实用新型 | ZL 201520408818.7 | 4767578 | 20151118 |
19 | 实现显微镜系统超分辨成像的方法 | 吴自玉、高昆、陈健、葛昕、王志立、王大江、潘志云 | 发明专利 | ZL 201210111518.3 | 1868692 | 20151202 |
20 | 带均热金属包层的流动氧化反应器 | 郭会军、张李东 | 实用新型 | ZL 201520512157.2 | 4812617 | 20151202 |
