仪器设备档案卡
仪器名称 | 透射电子显微镜 | 仪器型号 | JEM-2100PLUS |
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所属单位 | 中国科学技术大学国家同步辐射实验室 | ||||
制造商名称 | 日本电子株式会社 | 国别 | 日本 | ||
购置时间 | 2020/12/30 | 放置地点 | 国家同步辐射实验室D09室 | ||
预约审核人 | 蒋伟 | 操作人员 | 蒋伟，曹宇杨 | ||
仪器工作状态 | 正常 | 预约邮箱 | weijiang0105@ustc.edu.cn | ||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 显微镜及图象分析仪器 | 仪器小类 | 电子显微镜 |
仪器主要功能及描述 | 主要用于分析在光学显微镜下无法看清的细微结构(小于200nm)，在物理、化学、材料科学（成分以及结构分析）以及生命科学（保真性、生化物质定位等）中有着广泛的应用；主要功能：①TEM成像；②HRTEM 高分辨成像；③STEM 明暗场成像；④SAED 电子衍射分析；⑤CBD&NBD衍射分析；⑥微区化学元素分析；⑦低温观测成像； | ||||
备注 |
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仪器名称 | 场发射扫描电子显微镜 | 仪器型号 | GeminiSEM 360 |
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所属单位 | 中国科学技术大学国家同步辐射实验室 | ||||
制造商名称 | 卡尔蔡司管理有限公司 | 国别 | 英国 | ||
购置时间 | 2021/11/5 | 放置地点 | 国家同步辐射实验室D08室 | ||
预约审核人 | 蒋伟 | 操作人员 | 蒋伟，王周鑫 | ||
仪器工作状态 | 正常 | 预约邮箱 | weijiang0105@ustc.edu.cn | ||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 显微镜及图象分析仪器 | 仪器小类 | 电子显微镜 |
仪器主要功能及描述 | SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段, 广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等；主要功能：①固体物质表面形貌观察；②背散射电子像(BSE)；③X射线能谱(EDS)； | ||||
备注 |
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仪器收费信息
仪器名称 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目或标准名称 | 对外服务价格 |
透射电子显微镜 | 材料形貌和尺度分析 | 用户指定 | 用户指定 | 按时间/样品计费 |
场发射扫描电子 显微镜 | 材料形貌和元素分析 | 用户指定 | 用户指定 | 按时间/样品计费 |
